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吉品ZB系列射频测试支架,是射频测试支架系列的标准产品,适用于较小尺寸的需双面性能测试射频微系统产品(SIP)或射频基板产品的无损测试,封装形式可以为BGA/LGA/QFN/QFP等形式,可双面接入低频单元提供电源及控制,射频单元采用2.92插座引出,频率可以为0~40GHz。
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